隨著 FPC 產(chǎn)品在電子產(chǎn)品中的廣泛應(yīng)用,其質(zhì)量的要求 也越來越高,研究在線實(shí)時(shí)檢測(cè),對(duì)于降低檢測(cè)成本, 提高檢 測(cè)效率,保證產(chǎn)品質(zhì)量具有舉足輕重的意義。本課題研究 FPC光學(xué)自動(dòng)成像視覺檢測(cè)的過程檢測(cè)之一:印制線路瑕疵的檢測(cè)。其關(guān)鍵在于瑕疵識(shí)別規(guī)則和算法的設(shè)計(jì)。

    目前已有的瑕疵識(shí)別方法歸納起來有 3 類:參考比對(duì)法、非參考校驗(yàn)法和混合法。

(1) 參考比對(duì)法將待檢圖象和參考圖象進(jìn)行點(diǎn)對(duì)點(diǎn)(或特征對(duì)特征)比較。

    這類方法算法簡(jiǎn)單,容易實(shí)現(xiàn), 但由于無法獲得設(shè)計(jì)時(shí)參數(shù)(線寬、線距等) 違例所產(chǎn)生的瑕疵, 因此不 易檢測(cè)出導(dǎo)線寬度和間距違例等瑕疵。

(2)非參考校驗(yàn)法

    依據(jù)預(yù)先定義的設(shè)計(jì)規(guī)則來判斷待檢圖象是否有瑕疵,如果它不符合設(shè)計(jì)規(guī)則,就認(rèn)為有瑕疵。這類方法雖在檢測(cè)線寬、線距違例這類瑕疵時(shí)能夠收到很好的效果,但是其算法復(fù)雜, 運(yùn)算量很大,而且易漏檢線丟失等大瑕疵。

 (3) 混合法

   是前述兩類方法的綜合,在一定程度上克服了前兩種方法的缺點(diǎn),但目前這種方法還不是很成熟, 其算法復(fù)雜,且自適應(yīng)性不夠,系統(tǒng)擴(kuò)展能力差。

在分析上述方法的優(yōu)缺點(diǎn)的基礎(chǔ)上,提出了一種新的瑕疵識(shí)別方法,即多模板參考比對(duì)法。該方法將設(shè)計(jì)參數(shù)體現(xiàn)在最大線寬、標(biāo)準(zhǔn)線寬線距、最小線距等3個(gè)參考模板中,然后分別運(yùn)用參考比對(duì)法對(duì)待檢二值圖進(jìn)行瑕疵檢測(cè)。該方法針對(duì)不同缺陷獨(dú)有的面積大小、分布區(qū)域等特征,分別予以檢測(cè),避免了漏檢、誤檢發(fā)生,理論上能適應(yīng)不同結(jié)構(gòu)特點(diǎn)、不同設(shè)計(jì) 參數(shù)的 FPC線路板 的各種線路瑕疵的檢測(cè)。